单晶硅检测X射线单晶定向仪

yx-2d6晶体定向仪是在原2型机型上，针对硅单晶设计。主要用于晶片、晶棒测量；对管套、测角仪进行改进，样品台增加承重轨道，可测2-6英寸晶片，长400晶棒，样品板面积42（宽）×70（高），主要测量角度：硅110、111、100等其他相关晶体角度。

两边测角仪用户可根据本公司样品规格形状，选配不同的测角台，g系列测角仪（ga、gb、gc、gd、ge）。